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  • 阻抗測(cè)試的基本概念與方法
    阻抗測(cè)試的基本概念與方法
  • 阻抗測(cè)試的基本概念與方法
  •   發(fā)布日期: 2018-11-12  瀏覽次數(shù): 2,601

    阻抗測(cè)試基本概念

    阻抗定義:

     

    阻抗是元器件或電路對(duì)周期的交流信號(hào)的總的反作用。

    AC 交流測(cè)試信號(hào) (幅度和頻率)。

    包括實(shí)部和虛部。

    阻抗測(cè)試的基本概念與方法

    阻抗是評(píng)測(cè)電路、元件以及制作元件材料的重要參數(shù)。那么什么是阻抗呢?讓我們先來(lái)看一下阻抗的定義。

    首先阻抗是一個(gè)矢量。

    通常,阻抗是指器件或電路對(duì)流經(jīng)它的給定頻率的交流電流的抵抗能力。它用矢量平面上的復(fù)數(shù)表示。一個(gè)阻抗矢量包括實(shí)部(電阻R)和虛部(電抗X)。

    如圖下圖所示,阻抗在直角坐標(biāo)系中用Z=R+jX表示。那么在極坐標(biāo)系中,阻抗可以用幅度和相角表示。直角坐標(biāo)系中的實(shí)部和虛部可以通過(guò)數(shù)學(xué)換算成極坐標(biāo)系中的幅度和相位。

    其次,要記住阻抗的單位是歐姆。另外,要思考一下我們所熟知的電阻(R)、電感(L)和電容(C)分別對(duì)應(yīng)由于復(fù)阻抗平面中的位置。

    阻抗測(cè)試的基本概念與方法

    導(dǎo)納:導(dǎo)納是阻抗的倒數(shù),它也可以可以表述為實(shí)部(G電導(dǎo))和虛部(電納),其單位是西門子

    阻抗測(cè)試的基本概念與方法
    導(dǎo)納公式

    為什么要有阻抗和導(dǎo)納兩種表述方式呢?主要是為了非常簡(jiǎn)單的表述兩種常用串連和并聯(lián)連接方式。對(duì)于電阻和電抗串聯(lián)連接時(shí),采用阻抗的表述非常簡(jiǎn)單易用。但是對(duì)于電阻和電抗并聯(lián)連接時(shí),阻抗的表述非常復(fù)雜,這時(shí)候,采用導(dǎo)納就非常簡(jiǎn)單易用了。

    阻抗測(cè)試的基本概念與方法
    阻抗和導(dǎo)納的關(guān)系

    通常,阻抗是指器件或電路對(duì)流經(jīng)它的給定頻率的交流電流的抵抗能力。它用矢量平面上的復(fù)數(shù)表示。一個(gè)阻抗矢量包括實(shí)部(電阻R)和虛部(電抗X)。

    阻抗測(cè)量有多種可選擇的方法,每種方法都有各自得優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。需要首先考慮測(cè)量的要求和條件,然后選擇最合適的方法。需要考慮的因素包括頻率覆蓋范圍、測(cè)量量程、測(cè)量精度和操作的方便性。

    1、自動(dòng)平衡電橋法

    流過(guò)DUT的電流也流過(guò)電阻器Rr。“L”點(diǎn)的電位保持為0V(從而稱為“虛地”)。I-V轉(zhuǎn)換放大器使Rr上的電流與DUT的電流保持平衡。測(cè)量高端電壓和Rr上的電壓,即可計(jì)算出DUT的阻抗值。

    各類儀器自動(dòng)平衡電橋的實(shí)際配置會(huì)有所不同。常規(guī)LCR表的低頻范圍一般低于100KHz,可使用簡(jiǎn)單的運(yùn)算放大器作為它的I-V轉(zhuǎn)換器。由于受到放大器性能的限制,這類儀器在高頻時(shí)的精度較差。寬帶LCR表和阻抗分析儀所使用的I-V轉(zhuǎn)換器包括復(fù)雜的檢波器、積分器和矢量調(diào)制器,以保證在1MHz以上寬頻率范圍內(nèi)的高精度。這類儀器能達(dá)到110MHz的最高頻率。

    阻抗測(cè)試的基本概念與方法

    2、射頻I-V法

    射頻I-V法用阻抗匹配測(cè)量電路(50歐姆)和精密同軸測(cè)試端口實(shí)現(xiàn)不同配置,能在較高頻率下工作。有兩種放置電壓表和電流表的方法,以分別適應(yīng)低阻抗和高阻抗的測(cè)量。如圖所示,被測(cè)器件(DUT)的阻抗由電壓和電流測(cè)量值導(dǎo)出,流過(guò)DUT的電流由已知阻值的低阻電阻器R上的電壓經(jīng)計(jì)算得到。在實(shí)際測(cè)量中,電阻器R處放置低損耗互感器,但該互感器也限制了可應(yīng)用頻率范圍的低端。

    阻抗測(cè)試的基本概念與方法

    3、網(wǎng)絡(luò)分析法

    通過(guò)測(cè)量注入信號(hào)與反射信號(hào)之比得到反射系數(shù)。用定向耦合器或電橋檢測(cè)反射信號(hào),并用網(wǎng)絡(luò)分析儀提供和測(cè)量該信號(hào)。由于這種方法測(cè)量的是在DUT上的反射,因而能用于較高的頻率范圍。

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