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MOS管
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  • MOS管發(fā)熱原因分析
    MOS管發(fā)熱原因分析
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  •   發(fā)布日期: 2021-08-20  瀏覽次數(shù): 3,103
           最近參與到一款路由產(chǎn)品的硬件開發(fā)中,其中一項(xiàng)是客戶需要非標(biāo)準(zhǔn)POE供電,可輸出的POE供電電壓為12/24/30/48V切換,最大輸出功率設(shè)計(jì)為24W,電路采用反激式電源方案(電源芯片MP3910,芯片廠商提供方案),在調(diào)試該部分電路時(shí)出現(xiàn)MOS管(NMOS,SUD50N06)發(fā)熱嚴(yán)重,輸出電壓非帶載時(shí)正常,帶載時(shí)(開始帶載50%),MOS管發(fā)熱嚴(yán)重,輸出電壓被拉低,不論是輸出哪一路電壓,輸出只有9V左右,TLV431的穩(wěn)壓值只有1V左右(正常選擇的型號(hào)Vref=2.5V),開始一直覺得問題出在TLV431上,后來換了板子竟發(fā)現(xiàn)可以正常穩(wěn)壓(應(yīng)該是上一個(gè)板子變壓器和MOS管出現(xiàn)問題,但沒回去驗(yàn)證),但是mos管很燙,帶載不到十秒鐘就會(huì)冒煙,后來經(jīng)過與芯片方案的FAE溝通才發(fā)現(xiàn),MSP3910的驅(qū)動(dòng)MOS管的引腳gate腳與MOS管之間的限流電阻用錯(cuò)物料,原理圖是4.99歐,但實(shí)際用的是4.99K,更換電阻后可輸出正常電壓,MOS管也不會(huì)很燙,下面是解決問題思路:
     
          一、用示波器觀察所用MOS管的G極波形,如圖一所示 ,上升時(shí)間接近1.32us,下降時(shí)間接近<160ns(實(shí)測(cè)50ns),再看如圖二所示的手冊(cè)中對(duì)MOS驅(qū)動(dòng)上升下降沿要求,上升時(shí)間要求<35ns,下降時(shí)間<80ns,可得結(jié)論:上升時(shí)間過長(zhǎng)導(dǎo)致MOS管工作為線性狀態(tài),非開關(guān)狀態(tài)(參看總結(jié)一),MOS管開通過程時(shí)間太長(zhǎng)直接導(dǎo)致了MOS管的發(fā)熱嚴(yán)重。
     
         二、解決:更換驅(qū)動(dòng)限流電阻(圖二中Rg),由于當(dāng)時(shí)手里當(dāng)時(shí)沒有4.99歐電阻,更換為22歐的電阻后,G極波形如圖三所示,Ton和Toff已經(jīng)接近圖二要求的時(shí)間,MOS管24V時(shí)帶載27歐,輸出功率21.3W,輸出電壓正常,MOS管基本不發(fā)熱。      
     
       
     
                                                                                                                        圖一
     
     
     
                                                                                           圖二
     
     
     
                                                                                            圖三
     
    總結(jié)一:MOS管發(fā)熱原因小結(jié)(此處從網(wǎng)上搜集)
     
         1、電路設(shè)計(jì)的問題,就是讓MOS管工作在線性的工作狀態(tài),而不是在開關(guān)狀態(tài)。這也是導(dǎo)致MOS管發(fā)熱的一個(gè)原因。如果N-MOS做開關(guān),G級(jí)電壓要比電源高幾V,才能完全導(dǎo)通,P-MOS則相反。沒有完全打開而壓降過大造成功率消耗,等效直流阻抗比較大,壓降增大,所以U*I也增大,損耗就意味著發(fā)熱。這是設(shè)計(jì)電路的最忌諱的錯(cuò)誤;(本次產(chǎn)品測(cè)試問題點(diǎn)雖然不是出在電路設(shè)計(jì)上,但BOM做錯(cuò)比設(shè)計(jì)錯(cuò)誤往往更難分析)
     
         2、頻率太高,主要是有時(shí)過分追求體積,導(dǎo)致頻率提高,MOS管上的損耗增大了,所以發(fā)熱也加大了;
     
         3、沒有做好足夠的散熱設(shè)計(jì),電流太高,MOS管標(biāo)稱的電流值,一般需要良好的散熱才能達(dá)到。所以ID小于最大電流,也可能發(fā)熱嚴(yán)重,需要足夠的輔助散熱片;
     
      4、MOS管的選型有誤,對(duì)功率判斷有誤,MOS管內(nèi)阻沒有充分考慮,導(dǎo)致開關(guān)阻抗增大。
     
    總結(jié)二:MOS管工作狀態(tài)分析
     
          MOS管工作狀態(tài)有四種,開通過程、導(dǎo)通狀態(tài)、關(guān)斷過程,截止?fàn)顟B(tài);
     
          MOS管主要損耗:開關(guān)損耗,導(dǎo)通損耗,截止損耗,還有雪崩能量損耗,開關(guān)損耗往往大于后者;
     
          MOS管主要損壞原因:過流(持續(xù)大電流或瞬間超大電流),過壓(D-S,G-S被擊穿),靜電(個(gè)人認(rèn)為可屬于過壓);
     
    總結(jié)三:MOS管工作過程分析
     
          MOS管工作過程非常復(fù)雜,里面變量很多,總之開關(guān)慢不容易導(dǎo)致米勒震蕩(介紹米勒電容,米勒效應(yīng)等,很詳細(xì)),但開關(guān)損耗會(huì)加大,發(fā)熱大;開關(guān)的速度快,損耗會(huì)減低,但是米勒震蕩很厲害,反而會(huì)使損耗增加。驅(qū)動(dòng)電路布線和主回路布線要求很高,最終就是尋找一個(gè)平衡點(diǎn),一般開通過程不超過1us;
     
    總結(jié)四:MOS管的重要參數(shù)及選型
     
           Qgs:柵極從0V充電到對(duì)應(yīng)電流米勒平臺(tái)時(shí)總充入電荷,這個(gè)時(shí)候給Cgs充電(相當(dāng)于Ciss,輸入電容);
     
           Qgd:整個(gè)米勒平臺(tái)的總充電電荷(不一定比Qgs大,僅指米勒平臺(tái));
     
           Qg:總的充電電荷,包含Qgs,Qgd,以及之外的其它;
     
          上述三個(gè)參數(shù)的單位是nc(納庫(kù)),一般為幾nc到幾十nc;
     
           Rds(on):導(dǎo)通內(nèi)阻,這個(gè)耐壓一定情況下,越小損耗;
     
           總的選型規(guī)則:Qgs、Qgd、Qg較小,Rds(on)也較小的管.
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